커넥터의 수명은 실제로 얼마나 되나요?

커넥터 수명은 커넥터의 성능과 신뢰성을 측정하는 주요 지표로, 전자 제품의 고장 없는 성능, 디자인 중심의 서비스 수명 향상을 위한 커넥터 설계에 대한 요구가 증가하고 있습니다. 또한 시장에서의 경쟁이 치열해지면서 설계자는 커넥터 비용을 줄이기 위해 비싸지 않은 합금으로 적합한 소재를 찾아야 합니다. 많은 경우, 이러한 추세의 결합으로 인해 커넥터에서 구리 합금의 작동 특성이 성능 한계에 가까워졌습니다. 초기 접촉력은 커넥터 설계 및 재료 특성에서 중요한 요소입니다. 탄성 변형은 접점에서 소성 변형으로 변환되기 때문에 응력 완화는 접촉력 감소로 이어집니다. 접촉력이 특정 임계 수준 이하로 떨어지면 접점의 기능 장애가 발생합니다. 따라서 시간과 온도에 따른 응력 완화 예측은 당연히 커넥터의 신뢰성을 보장하는 핵심 요소입니다. 아래에서는 커넥터의 서비스 수명을 예측하기 위한 스트레스 완화 테스트와 관련된 문제를 자세히 소개합니다.

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스트레인 릴리프 데이터는 설계자가 전자 커넥터의 수명을 예측하고 사용 가능한 데이터를 기반으로 접촉 재료 선택에 대한 결정을 내릴 수 있는 효과적인 도구입니다. 이러한 데이터는 현재 컴퓨터, 통신 및 자동차 전자 산업에서 널리 사용되고 있습니다. 현재 제품의 수명 주기에 대한 데이터는 특히 컴퓨터 분야에서 매우 부족합니다. 뿐만 아니라 제품 개발 주기와 유효기간을 단축하는 데 더 유용한 데이터이기도 합니다. 대부분의 커넥터 설계자는 응력 완화 데이터를 주로 애플리케이션 요구 사항에 맞는 접점 소재의 선택 범위를 좁히기 위한 수단으로 사용합니다. 그러나 많은 설계자는 커넥터 수명 특성을 보다 정확하게 예측하기 위해 적절한 테스트 방법을 찾고 있습니다. 이를 통해 테스트에 필요한 샘플 수와 많은 샘플을 테스트하는 데 드는 관련 비용을 크게 줄일 수 있습니다. 현재 자동차 커넥터의 열악한 환경과 후드는 대부분 3 또는 1의 기술 요구 사항 설계에 사용되며, 차세대 자동차 커넥터의 작동 온도는 더 높아질 것으로 예상됩니다. 대부분의 비자동차 커넥터는 위의 조건에서 안정성을 유지할 필요가 없는 것으로 보입니다. 그러나 고밀도 커넥터는 초기 결합력이 낮아야 하므로 응력 완화량이 줄어듭니다. 따라서 낮은 온도에서도 응력 완화는 중요한 특성이 됩니다. 특정 어플리케이션과 관련된 테스트 데이터에 필요한 표준 측정 시간은 일반적으로 정확하게 결정하기 어렵습니다. 원하는 서비스 온도에서 1000시간에서 3000시간 사이의 테스트 시간은 자동차 전자 제품의 특성 데이터를 평가하는 데 사용할 수 있습니다. 3000시간 이상의 특성화 데이터, 즉 3000~5000시간(15만 마일의 서비스 수명에 해당) 사이의 데이터에 더 많은 관심을 기울이고 있다는 징후가 나타나고 있습니다. 경사 변화를 고려하지 않고 테스트 데이터를 외삽하면 시간이 지남에 따라 증가하는 접점 수명을 과대평가할 수 있습니다. 특정 온도에서 데이터를 반로그 그래픽으로 표현하는 것이 현재 가장 널리 사용되고 있으며 가장 시급히 필요한 방법입니다. 또한 특정 애플리케이션에 대한 재료를 비교하는 가장 쉬운 방법이기도 합니다. 그러나 추정된 데이터는 신중하게 확인해야 하며 최종 수명을 과대평가할 가능성을 염두에 두어야 한다는 점을 강조해야 합니다. 응력 완화 테스트 실험을 통해 다음과 같은 결론을 도출했습니다. (1) 커넥터의 작동 성능을 합금의 성능 한계에 가깝게 만드는 요인은 계속 존재할 가능성이 높습니다. 이는 응력 완화에 대한 정확한 예측이 커넥터 설계에 매우 중요하다는 것을 시사합니다. (2) 응력을 테스트 시간의 상관 함수로 사용할 때 기울기의 변화가 종종 관찰됩니다. 따라서 이 속성을 포착하려면 테스트 시간이 적절히 길어야 합니다. (3) 측정된 데이터와 온도 사이에 어느 정도 상관관계가 있는 경우, 사용 가능한 데이터를 더 긴 테스트 시간으로 선형적으로 일반화하는 것이 유용합니다. 또한 테스트 시간을 초과하면 때때로 왜곡이 발생한다는 사실과 다른 온도에서는 성능을 예측할 수 없다는 사실이 존재하는 결함입니다. (4) 라슨-밀러 파라미터는 다양한 온도에서 데이터 곡선을 하나의 그림으로 그릴 때 매우 유용합니다. 이 방법은 완료된 단기 테스트와 예상되는 단기 테스트의 온도 사이에서 재료의 성능을 예측하고 재료의 장기 성능을 모델링하는 데에도 매우 유용합니다. 그러나 이 테스트 온도 범위를 넘어서는 외삽에는 사용할 수 없습니다. (5) 두 가지 방법을 조합하여 추정된 값을 다시 확인할 수 있습니다. (6) 구리 스트립의 롤링은 커넥터 제조를 시뮬레이션 할 수 있으며, 이는 C7025 및 C17410 특성과 반대되는 영향을 미칩니다. (7) 스트립에서 얻은 데이터에는 몇 가지 제한 사항이 있으며 커넥터 제조 공정 중에 굽힘이 이루어지기 때문에 부정적인 영향을 반영하지 않습니다.

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